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[권리이전]제조 온톨로지 기반 품질예측 방법 및 시스템Manufacturing Ontology-based Quality Prediction Method and System
- Alternative Title
- Manufacturing Ontology-based Quality Prediction Method and System
- Abstract
- 본 발명은 제조 온톨로지를 활용한 품질예측 기술에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 품질관련 정보의 온톨로지 모델링에서 품질예측에 이르기까지의 일련 과정에서 사용된 방법과 이 방법을 따르는 시스템에 관한 것이다.
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