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[권리이전]제조 온톨로지 기반 품질예측 방법 및 시스템
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이용한 | - |
| dc.contributor.author | 이경훈 | - |
| dc.date.accessioned | 2025-09-09T10:03:06Z | - |
| dc.date.available | 2025-09-09T10:03:06Z | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.dongguk.edu/handle/sw.dongguk/61434 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 제조 온톨로지를 활용한 품질예측 기술에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 품질관련 정보의 온톨로지 모델링에서 품질예측에 이르기까지의 일련 과정에서 사용된 방법과 이 방법을 따르는 시스템에 관한 것이다. | - |
| dc.title | [권리이전]제조 온톨로지 기반 품질예측 방법 및 시스템 | - |
| dc.title.alternative | Manufacturing Ontology-based Quality Prediction Method and System | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.location | 대한민국 | - |
| dc.contributor.assignee | 브이디컴퍼니 주식회사 | - |
| dc.date.application | 2012-02-29 | - |
| dc.date.registration | 2013-05-06 | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1263410 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2012-0021196 | - |
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Collections - ETC > 4. Patents
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