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IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
ISSN
P 0894-6507 E 1558-2345
출판사
Institute of Electrical and Electronics Engineers IEEE
국가
USA
발행 상태
활성
데이터베이스 수록 정보
JCR 1997-2019 (23년)
SCI 2010-2019 (10년)
SCIE 2010-2021 (12년)
Scopus 2017-2020 (4년)
SJR 1999-2019 (21년)
전체 2건 중 1번부터 2번까지의 결과를 표시합니다.
2021
Article
An image-based deep learning network technique for structural health monitoring
- Lee, Dong-Han ;
- Koh, Bong-Hwan
- 2021-12
- Smart Structures and Systems, An International Journal
- TECHNO-PRESS
2014
Article
Bearing fault detection through multiscale wavelet scalogram-based SPC
- 2014-09
- Smart Structures and Systems, An International Journal
- TECHNO-PRESS