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Analysis of defect states in InSnZnO transparent thin film transistors as a function of post annealing
- 제목
- Analysis of defect states in InSnZnO transparent thin film transistors as a function of post annealing
- 저자
- 정권범
- 발행일
- 2024-07-10
- 학회명
- NANOSMAT
- 개최국가
- 스페인