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The origin of memory traps in SONOS structure by Ge and Si ion implantation
- 제목
- The origin of memory traps in SONOS structure by Ge and Si ion implantation
- 저자
- 양우철
- 발행일
- 2004-10-21
- 학회명
- 한국물리학회 가을 학술총회
- 개최지
- 제주대 / 제주시
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2004-10-21 ~ 2004-10-23