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초록
본 발명은 제조 온톨로지를 활용한 품질예측 기술에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 품질관련 정보의 온톨로지 모델링에서 품질예측에 이르기까지의 일련 과정에서 사용된 방법과 이 방법을 따르는 시스템에 관한 것이다.
- 제목
- [권리이전]제조 온톨로지 기반 품질예측 방법 및 시스템
- 제목 (타언어)
- Manufacturing Ontology-based Quality Prediction Method and System
- 저자
- 이용한; 이경훈
- 발행일
- 2013-05-06
- 출원번호
- 10-2012-0021196
- 등록번호
- 10-1263410
- 출원일
- 2012-02-29
- 등록일
- 2013-05-06